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近磁界プローブセット　XF1

【製品紹介】

1992年より事業を開始したLanger社は、顧客から要求のあったEMCの技術的な課題を解決するためのコンサルタント業務を中心に事業を展開しました。その中で、従来の測定設備やツールでは、製品が持つ本質的なEMCの技術的問題点を効率的に解析し解決することが難しいと判断し、この分野に於いてユニークで高性能、効果的な製品を次々と提案してきました。

その顕著な製品が、ここに紹介する各種の近磁界・電界プローブであり、高性能・高分解能EMCスキャナーテスタです。また、測定環境に対しても多額の投資を必要とする従来型の電波暗室ではなく、低価格で効果的なシールド環境を設計開発・段階から利用することを提唱し、実現したのがESA1妨害波シールドエミッションシステムです。

近磁界プローブセット　XF1

近磁界プローブセットXF1(PDF)

EMCスキャナテスタ　FLS102/103

磁気ノイズ発生状況を高精度に解析

特徴

■PCBやIC部品等から発生している（電）磁界の分布を、近傍（電）磁界プローブを走査して高分解能測定します。
■PCBやIC部品等に複雑な凹凸があっても、至近距離で近傍（電）磁界アンテナが自動トレースするため高感度測定が可能。
■専用の解析ソフトにより、2D、3D表示によるノイズ発生状況等を詳細に解析可能。
■IEC 61967-3 表面走査法に準拠
■測定周波数レンジ　10Mhz - 3Ghz
■プリアンプ使用時　30dB / 50Ohm
■各種ニアフィールドマイクロプローブ
  E Filed Probe / ICR　E 150 Resolution 65μm / 150μm x 35μm
  H Filed Probe / ICR HH150 Resolution 80μm / 150μm
  H Filed Probe / ICR HV150 Resolution 100μm / 150μm
■構成
測定には、スペクトラムアナライザ及びWindows PCが必要となります。

　 * 詳細スペック、カスタム仕様についてはお問い合わせください。

EMCスキャナテスタカタログ(PDF)